Charakterisierung von Dünnschichtsystemen

Am 24. November 2015 CETIP veranstaltet erstmalig ein eintägiges Seminar „Charakterisierung von Dünnschichtsystemen“.

Veranstaltungsort: Schenck Technologiepark, Raum 305, Landwehrstr. 55, 64293 Darmstadt

Referenten: Dr. André Möller und Dr. Bernd Mehlich (SGS Institut Fresenius GmbH)

Bei Fertigungsverfahren wie Bonden, Beschichten oder Lackieren ist eine ausreichende Oberflächenreinheit auf den elektronischen Baugruppen von elementarer Bedeutung. Durch Verunreinigungen auf der Oberfläche kann die Zuverlässigkeit dieser Prozesse erheblich beeinträchtigt werden. Für erfolgreiche Fehler- und Schadensanalysen an Werkstoffen und Produktion ist eine differenzierte Prüf- und Analysentechnik unverzichtbar. Diese muss fachübergreifend, vielfältig kombinierbar und mit kurzen Zugriffszeiten verfügbar sein.

In diesem Seminar werden Ihnen die Ursachen für Oberflächenunreinheiten und mögliche Lösungen vorgestellt. Sie lernen analytische Methoden zur Charakterisierung von Dünnschichtsystemen und ihre Anwendungen kennen.

Zielgruppe: Chemiker, Physiker und Ingenieure aus den Bereichen Reinraumtechnik und Reinraummaterialien, Umwelttechnik, Qualitätssicherung in der Halbleitertechnik und Oberflächen und Dünnschichttechnik, Medizintechnik.

Weitere Informationen finden Sie hier: .pdf